半吸收厚度检测

检测项目

1. 基础衰减系数：测量材料在X/γ射线下的线性衰减系数（μ），能量范围50-3000keV

2. 半值层厚度：测定使辐射强度衰减50%的材料厚度（HVL），精度±0.1mm

3. 十分之一值层：确定辐射强度衰减90%的厚度（TVL），测试误差≤2%

4. 能量响应特性：分析材料在不同光子能量（20-2000keV）下的吸收差异

5. 密度相关性：建立材料密度（0.5-25g/cm³）与吸收厚度的数学模型

检测范围

1. 金属合金：铅基防护材料（Pb-Sb/Cu复合体）、钨镍合金（WNiFe系列）

2. 高分子材料：聚乙烯基硼酸酯（PE-B4C）、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）

3. 混凝土制品：钡砂混凝土（BaSO4≥35%）、磁铁矿混凝土（Fe3O4≥60%）

4. 玻璃制品：铅玻璃（PbO≥55%）、铋基防辐射玻璃（Bi2O3≥45%）

5. 复合屏蔽体：多层铅-聚乙烯结构、梯度钨-铝复合材料

检测方法

ASTM E746-18：标准测试X射线衰减系数的实验规程

ISO 4037-1:2019：窄谱系列X射线参考辐射规范

GB/T 11713-2015：高纯锗γ能谱分析通用方法

GB 18871-2002：电离辐射防护与辐射源安全标准

IEC 61331-1:2014：医用诊断X射线防护器具测试规范

检测设备

1. X射线发生器：YXLON MG325（160kV/20mA，焦点尺寸0.4mm）

2. γ放射源装置：Cs-137源（661keV）配套AMETEK靶室系统

3. 电离室剂量计：PTW UNIDOS E（量程10nGy-10Gy，能量响应15keV-7MeV）

4. 高纯锗探测器：ORTEC GEM60P4-83（相对效率60%，FWHM≤1.8keV）

5. 自动测厚仪：Mitutoyo LSM-500S（量程0-50mm，分辨率0.1μm）

6. 密度测量仪：Sartorius YDK01-LP（量程0.01-25g/cm³）

7. 准直器系统：HOPEWELL DESKTOP-CL20（钨合金材质，孔径精度±5μm）

8. 数据采集系统：National Instruments PXIe-5171R（14位分辨率，250MS/s）

9. 辐射屏蔽箱体：NELCO NBL系列（铅当量≥3mmPb）

10. 温控试验箱：ESPEC PL-3KPH（温度范围-40℃~150℃，波动度±0.3℃）